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簡(jiǎn)要描述:新型MiniTest400系列德國(guó)EPK推出MiniTest 400 系列是德國(guó)EPK 公司推出的新型超聲波測(cè)厚儀。該系列產(chǎn)品具有使用簡(jiǎn)便,速度快,可靠性高等特點(diǎn)。高精準(zhǔn)超聲波測(cè)厚儀;高阻抗雙晶探頭。
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品牌 | ElektroPhysik/德國(guó)EPK |
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新型MiniTest400系列德國(guó)EPK推出
MiniTest400涂層厚度的三種型號(hào)可用的:
MiniTest 420 - zui重要的基本功能彪悍的入門級(jí)型號(hào)
MiniTest 430 - 具有擴(kuò)展功能范圍和USB接口
MiniTest 440 - 設(shè)備,可以穿透涂層測(cè)量
性能特點(diǎn)
非破壞性壁厚測(cè)量0.65mm和500 mm之間范圍
高測(cè)量精度和可重復(fù)性
高分辨率為0.01 mm
掃描模式,每秒10次測(cè)量
測(cè)量模式
標(biāo)準(zhǔn)
在標(biāo)準(zhǔn)模式下顯示的激活測(cè)量讀數(shù)。
zui小
zui低值(=zui薄點(diǎn)),同時(shí)測(cè)量顯示。這種模式適用于測(cè)量曲面上,或者找到zui薄壁厚。
差分
示出所需要的厚度和測(cè)量的有效厚度之間的差分值。
警報(bào)(限制)
當(dāng)值超過(guò)或低于閾值時(shí),可激活光學(xué)和聲學(xué)報(bào)警。
掃描
特別是對(duì)于在高溫材料溫度快速測(cè)量。
低電壓存儲(chǔ)
zui小模式來(lái)檢測(cè)由于腐蝕或選擇性/點(diǎn)蝕變薄
具有光學(xué)和聲學(xué)信號(hào)的報(bào)警模式,以指示超過(guò)限制值
差分模式顯示偏離設(shè)定值
保存和測(cè)量值以評(píng)估內(nèi)置的數(shù)據(jù)記錄器
新型MiniTest400系列德國(guó)EPK推出
MiniTest 420
堅(jiān)固的、價(jià)格經(jīng)濟(jì)的基本模型與存儲(chǔ),USB接口和自動(dòng)探頭校準(zhǔn)檢測(cè)。標(biāo)準(zhǔn)和zui小的測(cè)量模式可供選擇。
MiniTest 430
集成內(nèi)存10組每組zui多500個(gè)測(cè)量值和USB接口。除了MiniTest420型號(hào),微分,報(bào)警和掃描測(cè)量模式也可。
MiniTest 440
10組各有500個(gè)測(cè)值的zui大容量集成內(nèi)存的設(shè)備,USB接口和5個(gè)測(cè)量模式;連接回波探測(cè)器是可能的。
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